2013年質(zhì)量工程師考試備考已經(jīng)拉開帷幕，為了幫助考生順利通過2013年質(zhì)量工程師考試，小編特編輯整理了2013年質(zhì)量工程師模擬試題：《中級(jí)綜合知識(shí)》基礎(chǔ)階段練習(xí)題，希望在2013年中級(jí)質(zhì)量工程師考試中，助您一臂之力！

1、EXP(λ)的具體形式為( )。

A.P(x)=λe-λx(λ>0)

B.P(x)=-λe-λx(λ>0)

C.

D.

2、以下分別用來表示分布的中心位置和散布的大小的特征值是( )。

A.均值、方差

B.方差、均值

C.標(biāo)準(zhǔn)差、均值

D.方差、標(biāo)準(zhǔn)差

3、以下關(guān)于抽樣分布說法錯(cuò)誤的是( )。

A.統(tǒng)計(jì)量的分布稱為抽樣分布

B.每一個(gè)統(tǒng)計(jì)量都有一個(gè)抽樣分布

C.不同的統(tǒng)計(jì)量可得不同的抽樣分布

D.抽樣分布只能通過理論推導(dǎo)獲得

4、現(xiàn)已知X1，X2，…，Xn是從某正態(tài)總體隨機(jī)抽取的一個(gè)樣本，在μ未知的情況下，對(duì)于以下假設(shè)的檢驗(yàn)問題H0：σ2=σ20 H1：σ2=σ20則給定α下，該檢驗(yàn)的拒絕域?yàn)? )。

A.x2>x21-α(n-1)

B.x2x21-α/2(n-1)

C.x2>x21-α/2(n-1)

D.x2>x2α/2(n-1)

5、某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%?，F(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠( )。(取α=0.05)

A.可以

B.不可以

C.無法判斷

D.需重新檢驗(yàn)

1、在使用GB/T2828.1的轉(zhuǎn)移規(guī)則時(shí)，應(yīng)注意由正常檢驗(yàn)轉(zhuǎn)為加嚴(yán)檢驗(yàn)是( )執(zhí)行的，而由正常檢驗(yàn)轉(zhuǎn)為放寬檢驗(yàn)是( )執(zhí)行的。

A.強(qiáng)制 強(qiáng)制

B.非強(qiáng)制 強(qiáng)制

C.強(qiáng)制 非強(qiáng)制

D.非強(qiáng)制 非強(qiáng)制

2、GB/T14900-1994是( )。

A.以產(chǎn)品質(zhì)量均值為質(zhì)量指標(biāo)的計(jì)量監(jiān)督抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

B.用于小總體且不合格品數(shù)為質(zhì)量指標(biāo)的監(jiān)督抽樣標(biāo)準(zhǔn)

C.以總體不合格率為質(zhì)量指標(biāo)的監(jiān)督抽樣標(biāo)準(zhǔn)

D.適用于每百單位產(chǎn)品不合格數(shù)為質(zhì)量指標(biāo)的監(jiān)督檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

3、SPC中主要工具是( )。

A.隨機(jī)性

B.正態(tài)分布法

C.概率分布理論

D.控制圖理論

4、總體不包括( )。

A.過去己制成的產(chǎn)品的全體

B.現(xiàn)在正在制造的產(chǎn)品的全體

C.未來將要制造的產(chǎn)品的全體

D.己制成產(chǎn)品中抽取的一小部分

5、統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)達(dá)到，技術(shù)控制狀態(tài)未達(dá)到的是( )。

A.狀態(tài)Ⅰ

B.狀態(tài)Ⅱ

C.狀態(tài)Ⅲ

D.狀態(tài)Ⅳ

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